視覺檢測AOI（automatically optical inspection）光學自動檢測，顧名思義是通過光學系統(tǒng)成像實現(xiàn)自動檢測的一種手段，同時也是眾多自動圖像傳感檢測技術(shù)中的檢測技術(shù)之一，準確且高質(zhì)量的光學圖像并加工處理是其核心技術(shù)點。
       圖像傳感器是AOI系統(tǒng)采集圖像的基礎(chǔ)。目前市面上大多數(shù)廠商選擇使用面陣相機，面陣相機通過拍攝一幅一幅的圖片達到取像目的，優(yōu)點是圖像的還原性較好，打光角度容易調(diào)整，容易得到較清晰的圖像，相比線陣相機誤判率較低。
       主機是運行檢測軟件系統(tǒng)的平臺。不同行業(yè)不同工廠生產(chǎn)線對AOI檢測設備的需求不同，AOI設備是高度定制化產(chǎn)品，設備廠商往往需要根據(jù)下游客戶的要求進行主機設備的調(diào)整或是軟件的二次開發(fā)。
       在AOI檢測中，噪聲是造成圖像退化的原因之一，其起因是AOI圖像在傳輸過程中，外界雜散光，光電二極管電子噪聲及溫度，光源的不穩(wěn)定不均勻，機械系統(tǒng)的抖動，傳感器溫度等原因?qū)е拢@樣就會不可避免的使得圖像因含有噪音而變得模糊。給圖像識別，圖像切割等后續(xù)處理工作帶來了困難。因此，為了獲得真實的圖像信息，除去噪聲的濾波處理必不可少。
       表面缺陷檢測主要是物體表面局部物理或者化學性質(zhì)不均勻的區(qū)域，比較常見的有金屬或者塑料制品表面的劃痕（如：手機殼/屏幕表面的劃痕）、斑點和孔洞（如：PCB板漏了焊點或者表面多了焊點），紙張表面的色差、臟污點、破損，紙制品表面的壓痕、凸起，玻璃等非金屬制品表面的雜質(zhì)、破損、污點、平整度等。

 

       缺陷部分是否上報時，系統(tǒng)算法主要有增加比對次數(shù)和范圍（Multi check）增加對比次數(shù)，也就是比對的維度從一維擴展到二維，甚至三維。以下圖為例，當要判定紅色單元是否為缺陷時，通常的算法是縱向或橫向的一維比較，隨著算法的邏輯關(guān)系的不斷優(yōu)化，先進行縱向重復模板對比，再增加橫向，對角線，甚至更外圍的模板比較，可以大大提高檢測結(jié)果的準確度。
       一種光源檢測時所得到的信息往往是有限的，將多種光源掃描的信息合并在一起綜合判定，會進一步提高判定的準確性。其中，典型的多角度判定方法之一是多重閾值設定模式（MTS：multi Thresholds system），針對不同缺陷物質(zhì)的特性對不同波長光的敏感度不同分別設定閾值，一般采集不同光學波長下的灰階值，并追加三者之間判定的邏輯關(guān)系達到提高檢出正確性。
       在實際應用中，將以上方法相結(jié)合，通過對采集圖像進行預處理去噪，對影響增強，進行多重邏輯關(guān)系判定可以達到很好的效果。
       CMOS面掃描圖像傳感器數(shù)據(jù)傳輸速度更快，單位時間內(nèi)完成的數(shù)據(jù)采集量更多，同時，搭配高效率，長壽命和均勻性好的LED光源，滿足了CMOS圖像傳感器快速移動時積累電荷的需求，降低了平臺移動精度的需求，所以，更符合目前顯示行業(yè)生產(chǎn)節(jié)拍（TACT time）越來越快的需求。
       在滿足TACT time的需求的同時，同一次掃描中可以實現(xiàn)多種光源的連續(xù)切換使用，為缺陷判定提供了更豐富的數(shù)據(jù)信息，提高了檢出的準確性，硬件設計方面，澤聯(lián)控股雷克斯托將面掃描CMOS圖像傳感器與高穩(wěn)定性LED光源進行了高度集成。模組化的設計讓安裝調(diào)試更便捷，光學校正更快，因易于維護和診斷得到了業(yè)內(nèi)的廣泛認可。